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电学测试解决方案

BX3100数字集成电路测试系统

● ATE类型:数字集成电路

● 操作方式:自动

● 应用范围:晶圆、芯片

● 适用测试:电源功耗、开短路、输入漏电、输出带载能力、功能测试

● 适用场景:晶圆制造工厂、封装测试工厂、芯片设计公司

应用范围:

MCU、Flash、LDO、ADC、DAC、Logic等芯片参数的CP、FT测试

主要特点:

● 数字通道内建PPMU/频率测量单元

● Source/Capture向量

● 最高2GB 存储深度 SCAN向量

● ALPG向量生成测试存储芯片


设备参数:

最大数据速率200Mbps
最大数字通道512(64*8)
器件电源数量32(16*2)
器件电源参数-10V~+10V/最大8A
参数测量电压-1.5V~+6.5V/精度10mV
参数测量电流

±2uA/±20uA/±200uA±2mA/±50mA


机械&电气规格:

机械规格

外尺寸(测试头)

520(W)*490 (L)*650(H)mm

净重(测试头)

approx.70kg

毛重(测试头)

approx.100kg


电气规格

能量功耗

3000W

工作电压

200~240VAC 50/60Hz



珠海博杰电子股份有限公司

测试及自动化专家